| 发明名称 |
HOLE IN-SITU TESTING DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0468186(A) |
申请公布日期 |
1992.03.03 |
| 申请号 |
JP19900177246 |
申请日期 |
1990.07.06 |
| 申请人 |
CHIYUUOU KAIHATSU KK |
发明人 |
TOKUMARU TETSUYOSHI;FUJIWARA GIICHI;NISHI KOICHI;TAKEYAMA TAKAO |
| 分类号 |
E21B47/12;E02D1/00;E21B47/14;E21B47/16;E21B47/18;E21B49/00 |
主分类号 |
E21B47/12 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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