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经营范围
发明名称
TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号
JPH0463453(A)
申请公布日期
1992.02.28
申请号
JP19900177017
申请日期
1990.07.02
申请人
MITSUBISHI ELECTRIC CORP
发明人
SHIMATANI HIROAKI
分类号
G01R31/26;H01L21/66
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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