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发明名称 IC TEST SYSTEM
摘要
申请公布号 JPH0462486(A) 申请公布日期 1992.02.27
申请号 JP19900172369 申请日期 1990.06.29
申请人 HITACHI ELECTRON ENG CO LTD 发明人 NOGUCHI AKINORI;SASAGAWA KIYOSHI
分类号 G01R31/28;G01R31/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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