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发明名称 PATTERN GENERATOR FOR IC TEST
摘要
申请公布号 JPH0452577(A) 申请公布日期 1992.02.20
申请号 JP19900163167 申请日期 1990.06.21
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 SATO KAZUHIKO
分类号 G01R31/3183;G01R31/28 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
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