发明名称 SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND APPARATUS FOR TESTING THE SAME
摘要
申请公布号 JPH0450679(A) 申请公布日期 1992.02.19
申请号 JP19900154394 申请日期 1990.06.13
申请人 FUJITSU LTD 发明人 KUMAKURA SHINSUKE
分类号 G01R31/26;G01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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