| 发明名称 |
METHOD FOR INSPECTING CRACK IN TEMPERED GLASS PRODUCT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0431749(A) |
申请公布日期 |
1992.02.03 |
| 申请号 |
JP19900137582 |
申请日期 |
1990.05.28 |
| 申请人 |
FUJI ELECTRIC CO LTD;FUJI FACOM CORP |
发明人 |
YAMADA NARIHIDE |
| 分类号 |
G01N21/88;G01N21/958;H04N7/18 |
主分类号 |
G01N21/88 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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