发明名称 Device for contacting elements for testing.
摘要 <p>Die Erfindung betrifft eine Kontaktierungsvorrichtung, insbesondere für Prüfzwecke, mit mehren in einem Prüffeld entlang von zwei quer, insbesondere senkrecht, zueinander verlaufenden Koordinaten verfahrbaren Positioniergliedern, die je einen auf eine gewünschte Kontaktstelle eines Prüflings aufsetzbaren Kontaktfinger aufweisen, wobei zwei Kontaktfinger ein Sondenpaar bilden, das Bestandteil eines Prüfstromkreises ist. Insbesondere zur Beschleunigung des Prüfvorgangs wird vorgeschlagen, mehrere Sondenpaare (12) auszubilden, deren Positionierglieder (5) unabhängig voneinander entlang der Koordinaten (x,y) verfahrbar sind. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP0468153(A1) 申请公布日期 1992.01.29
申请号 EP19910107673 申请日期 1991.05.11
申请人 ATG ELECTRONIC GMBH 发明人 PROKOPP, MANFRED
分类号 G01R1/073;G01R31/28 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人
主权项
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