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发明名称 METHOD FOR CHECKING SEMICONDUCTOR MEMORY CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH0422887(A) 申请公布日期 1992.01.27
申请号 JP19900127349 申请日期 1990.05.16
申请人 MATSUSHITA ELECTRON CORP 发明人 KAGEYAMA SEIICHI
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/04 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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