| 摘要 |
L'invention concerne des cibles multiples utilisées dans la spectrométrie de masse par bombardement atomique rapide (FAB), le bombardement ionique rapide, la spectrométrie de masse aux ions secondaires, la spectrométrie de masse par désorption de plasma ainsi que des techniques similaires, visant à faciliter les mesures de masse précises en augmentant la résolution. |
