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发明名称 LOGISCHE SCHALTUNG MIT VERBESSERTER TESTMOEGLICHKEIT FUER DEFEKTE DURCHGANGSKONTAKTE.
摘要
申请公布号 AT70639(T) 申请公布日期 1992.01.15
申请号 AT19860901643T 申请日期 1986.02.18
申请人 UNISYS CORPORATION 发明人 GAL, LASZLO, VOLGYESI
分类号 G01R31/28;G01R31/02;G01R31/3185;H01L21/66;H01L23/544;(IPC1-7):G01R31/02 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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