发明名称 | 校正装置,校正方法以及测试装置 | ||
摘要 | 本发明的目的是提供一种校正装置,为一种对抖动测定电路进行校正的校正装置,其中,该抖动测定电路是根据输入信号,和利用可变延迟电路使输入信号延迟的延迟信号,而输出与输入信号的抖动量相对应之电平的抖动测定信号;而且,该校正装置包括:延迟控制部,其对可变延迟电路依次设定第1延迟量及第2延迟量;增益计算部,其根据抖动测定电路对第1延迟量及第2延迟量所分别输出的抖动测定信号,而计算抖动测定电路的增益。 | ||
申请公布号 | TW200829943 | 申请公布日期 | 2008.07.16 |
申请号 | TW096138490 | 申请日期 | 2007.10.15 |
申请人 | 爱德万测试股份有限公司 | 发明人 | 石田雅裕;冈安俊幸 |
分类号 | G01R35/02(2006.01);G01R29/26(2006.01) | 主分类号 | G01R35/02(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |