发明名称 校正装置,校正方法以及测试装置
摘要 本发明的目的是提供一种校正装置,为一种对抖动测定电路进行校正的校正装置,其中,该抖动测定电路是根据输入信号,和利用可变延迟电路使输入信号延迟的延迟信号,而输出与输入信号的抖动量相对应之电平的抖动测定信号;而且,该校正装置包括:延迟控制部,其对可变延迟电路依次设定第1延迟量及第2延迟量;增益计算部,其根据抖动测定电路对第1延迟量及第2延迟量所分别输出的抖动测定信号,而计算抖动测定电路的增益。
申请公布号 TW200829943 申请公布日期 2008.07.16
申请号 TW096138490 申请日期 2007.10.15
申请人 爱德万测试股份有限公司 发明人 石田雅裕;冈安俊幸
分类号 G01R35/02(2006.01);G01R29/26(2006.01) 主分类号 G01R35/02(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 日本