首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 LOGIC CIRCUIT HAVING NORMAL INPUT/OUTPUT DATA PATHS DISABLED WHEN TEST DATA IS TRANSFERRED DURING MACROCELL TESTING
摘要
申请公布号 US5077740(A) 申请公布日期 1991.12.31
申请号 US19890303232 申请日期 1989.01.30
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 发明人 KANUMA, AKIRA
分类号 G01R31/317;G01R31/28;G01R31/3185;H03K19/00 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com