发明名称 METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECTS OF PATTERNS IN MICROELECTRONIC DEVICES
摘要
申请公布号 EP0230285(B1) 申请公布日期 1991.12.27
申请号 EP19870100518 申请日期 1987.01.16
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOYODA JIDOSHOKKI SEISAKUSHO;HATTORI, SHUZO 发明人 YOSHIDA, AKIHIRO KK TOYODA JIDOSHOKKI SEISAKUSHO;IIDA, TAKAHIDE KK TOYODA JIDOSHOKKI SEISAKUSHO;MIYAKE, HIROSHI KK TOYODA JIDOSHOKKI SEISAKUSHO;HATTORI, SHUZO
分类号 G01N21/956 主分类号 G01N21/956
代理机构 代理人
主权项
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