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发明名称 TEST CIRCUIT FOR AC CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
摘要
申请公布号 JPH03295481(A) 申请公布日期 1991.12.26
申请号 JP19900098118 申请日期 1990.04.13
申请人 NEC CORP 发明人 SATO FUMIHIKO
分类号 G01R31/317;G01R31/28;G01R31/3183 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
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