发明名称 分光光度计的波长扫描方法
摘要 一种分光光度计的波长扫描方法,在该分光光度计中在其控制部中设定有波长扫描条件,通过该控制部来控制分光器的波长扫描。并采集光谱数据,其特征在于:作为波长扫描条件除以一定速度进行波长扫描的波长范围外还设定有一度停止波长扫描的波长或以比上述一定速度慢的速度进行波长扫描的波长范围。用本发明的方法时测量精度高而采集光谱数据所需要的时间与现有技术相比几平没有变长。
申请公布号 CN1015205B 申请公布日期 1991.12.25
申请号 CN88108271.6 申请日期 1988.11.29
申请人 株式会社岛津制作所 发明人 佐藤辰已
分类号 G01J3/06 主分类号 G01J3/06
代理机构 上海专利事务所 代理人 颜承根
主权项 1.一种分光光度计的波长扫描方法,其中上述分光光度计包含:光源部分;将从上述光源部分出来的光分散为一系列波长的分光器;含有待分析的试料的试料室;将具有被选出的一种上述波长的单色光引入上述试料室并照射到上述试料上的光学装置;对从上述试料出来的光进行测量并产生相应的输出电气信号的光测量装置;及一控制器,其中设定上述分光器的波长扫描情况,且上述控制器还根据上述设定情况控制上述分光器的波长扫描工作,并对上述输出电气信号进行处理,以获得上述试料的光谱数据;其特征包括:作为上述设定情况之一,在上述控制器中设定一波长范围,在该波长范围上以预定的较快的恒定速度进行波长扫描,且在该波长范围内至少在一个波长上暂时停止波长扫描一预定的期间,且该预定期间的长度足以允许从上述光测量装置出来的上述输出电气信号稳定,并在上述输出电气信号已足够地稳定之后可进行下一次取样;及根据上述设定情况进行波长扫描。
地址 日本京都市中京区