发明名称 PROCESS FOR TESTING DEVICES
摘要 Dans un procédé pour le contrôle de dispositifs selon DE 37 09 532 A1, la fiabilité du résultat du contrôle dépend de l'analyse de fonctions sinusoïdales; dans de nombreux cas, cette analyse n'est pas une opération simple. Pour pouvoir déterminer, dans un procédé de contrôle de dispositifs, si le résultat du contrôle est influencé par des grandeurs perturbatrices qui se superposent aux grandeurs analysées, une valeur de sortie (u) du dispositif à contrôler est analysée non seulement avec un filtre (4) d'un permier type, mais aussi avec un filtre (9) d'un troisième type; en outre, une valeur de sortie (i) du dispositif à contrôler, analysée avec un filtre (7) du premier type et un filtre (8) du deuxième type, est analysée à nouveau avec un filtre (10) d'un quatrième type, les caractéristiques d'amplitude et de fréquence des filtres (4, 7, 8, 9, 10) étant choisies de manière que le quotient de la caractéristique d'amplitude et de fréquence du filtre (7) du premier type et du filtre (8) du deuxième type soit égal au quotient de la caractéristique d'amplitude et de fréquence du filtre (10) du quatrième type et du filtre (9) du troisième type. Les paramètres, calculés de deux manières, du dispositif à contrôler sont comparés entre eux dans une unité de calcul.
申请公布号 WO9119342(A1) 申请公布日期 1991.12.12
申请号 WO1991DE00407 申请日期 1991.05.15
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SEZI, TEVFIK
分类号 G01R27/16;G01R31/08;H02H7/26 主分类号 G01R27/16
代理机构 代理人
主权项
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