发明名称 APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH03282270(A) 申请公布日期 1991.12.12
申请号 JP19900082686 申请日期 1990.03.29
申请人 NEC CORP 发明人 TANIGUCHI YUKIHIRO
分类号 G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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