| 摘要 |
Un circuit logique (26) servant à mesurer le retard d'un dispositif semiconducteur est sensiblement formé non pas dans la zone (14) d'un circuit logique mais dans sa zone périphérique (12). Une pluralité de portes d'inversion (261-26n) configurant le circuit logique (26) et les connexions entre ces portes (GL1-GLn) sont incorporées à ladite zone (12) et à deux (27a, 27b) des quatre barrières entre la zone périphérique (12) et la zone logique (14), les barrières (27a, 27b) correspondant respectivement à deux côtés (10a, 10b) d'une puce (10). On peut ainsi éliminer les variations du temps de retard du circuit logique et faire une estimation hautement fiable de la vitesse de fonctionnement par rapport au bloc de circuit logique d'un dispositif semiconducteur. |
