发明名称 METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING SURFACE CONDITION OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE
摘要
申请公布号 JPH03278442(A) 申请公布日期 1991.12.10
申请号 JP19900080386 申请日期 1990.03.27
申请人 DAINIPPON SCREEN MFG CO LTD 发明人 USAMI AKIRA;MATSUKI KAZUNORI;TAKEUCHI TSUTOMU
分类号 H01L21/66;G01R31/308 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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