首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 INSPECTION OF SEMICONDUCTOR WAFER
摘要
申请公布号 JPH03276660(A) 申请公布日期 1991.12.06
申请号 JP19900076323 申请日期 1990.03.26
申请人 OKI ELECTRIC IND CO LTD 发明人 OKI HISANORI
分类号 H01L21/301;H01L21/66;H01L21/78 主分类号 H01L21/301
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com