发明名称 利用测量阻抗测量物理量的方法及装置
摘要 测量阻抗,尤其是低电容量阻抗的方法。为了改进测量精度和稳定性,在该方法中,采用了有基准阻抗的电子测量仪器,这些阻抗的电气值处于测量范围之中,而且,利用测量电路的转换装置依次将测量仪器与该阻抗或被测阻抗交替连接。
申请公布号 CN1015023B 申请公布日期 1991.12.04
申请号 CN87100833.5 申请日期 1987.02.13
申请人 瓦萨拉公司 发明人 马蒂·利拉
分类号 G01R27/02 主分类号 G01R27/02
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人 姚珊
主权项 1、一种利用具有低阻抗值的测量阻抗精确测量物理量的方法,包括以下步骤:(a)选择第一和第二稳定基准阻抗,使其阻抗值分别处于阻抗测量范围的较低区域和较高区域端;其特征在于进一步包括以步骤:(b)选择第三稳定基准阻抗,使其阻抗值处于测量范围的较低区域和较高区域之间的中间区域;(c)在校准方式期间,通过将每个基准阻抗一次一个地连接到测量电路上来确定出初始校准容器的工作状态的函数;(d)存贮初始校正参数,(e)设置一个在校准和测量方式中与每个基准阻抗和测量阻抗相接的测量电路,以测量所选择的测量阻抗的阻抗值,在校准和测量方式中,该测量电路具有一个变化的响应特性作为不同工作状态的函数;(f)在测量方式期间,通过将每个基准阻抗一次一个地连接到测量电路上来测定更新的校正参数,该更新校正参数是每个基准阻抗的函数;(g)比较更新校正参数与初始校正参数,根据更新校正参数与初始校正参数的差存贮一个校正参数;(h)在测量方式期间,通过将测量阻抗连接到测量电路上来测量该阻抗的阻抗值;(i)确定作为在步骤(h)中测得的阻抗值的函数的对于测量阻抗的校正阻抗值和校正系数,从而减少由工作状态不同造成的变化的响应特性引起的测量误差;(j)Y函数的校正值Y′M是根据下式计算的:<img file="87100833_IMG2.GIF" wi="543" he="97" />其中,Y(CR<sub>2</sub>)-CM)/(CR<sub>2</sub>-CR<sub>1</sub>),根据第一和第二基准阻抗CR<sub>1</sub>和CR<sub>2</sub>利用线性模式确定的YM值:△Y<sub>3</sub>=YCR<sub>3</sub>-YCR<sup>′</sup><sub>3</sub>;YCR<sup>′</sup><sub>3</sub>=初始状态-即校准状态开始-时的恒定量CR<sub>3</sub>的Y值;YCR<sup>′</sup><sub>3</sub>=被检测的测量周期中的第三恒定量CR<sub>3</sub>的Y值;YM=被测电容的Y值。
地址 芬兰万塔01670