| 发明名称 |
CONTACT TIP OF ELECTRIC TEST PROBE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH03251769(A) |
申请公布日期 |
1991.11.11 |
| 申请号 |
JP19900400025 |
申请日期 |
1990.12.01 |
| 申请人 |
EBERETSUTO CHIYAARUZU KONTAKUTO PURODAKUTSU INC |
发明人 |
MAAKU EI SUWAATO |
| 分类号 |
G01R1/067;H05K3/00;H05K13/08 |
主分类号 |
G01R1/067 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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