发明名称 AUTOMATIC TEST SYSTEM
摘要
申请公布号 JPH03237851(A) 申请公布日期 1991.10.23
申请号 JP19900034639 申请日期 1990.02.14
申请人 NEC CORP 发明人 UEDA KEIICHI
分类号 H04M3/08;H04M3/22 主分类号 H04M3/08
代理机构 代理人
主权项
地址