PROCESS FOR CALIBRATING A THICKNESS TESTER AND THICKNESS TESTER FOR MEASURING THE THICKNESS OF OR MONITORING COATINGS, STRIPS, FILMS OR THE LIKE

摘要

L'invention propose un procédé d'étalonnage d'un appareil servant à mesurer l'épaisseur possèdant, de préférence, deux capteurs de déplacement (2, 3) fonctionnant par contact ou sans contact. Des appareils servant à mesurer l'épaisseur fonctionnant selon différents principes de mesure peuvent, grâce à ce procédé, être étalonnés facilement, à l'endroit ou la mesure doit être effectuée, cela au moyen d'un objet de référence (7).