发明名称 | 液晶显示元件的测试方法 | ||
摘要 | 用电子束(7)扫描不可能用一般方法进行处理的液晶显示半成品的图象电极,以便测试有关的开关元件(13,20)。在不同类型的液晶显示半成品中,可用激光束(5)照射开关元件(23,24)来监控这些开关元件的质量。 | ||
申请公布号 | CN1014359B | 申请公布日期 | 1991.10.16 |
申请号 | CN88102316.7 | 申请日期 | 1988.04.18 |
申请人 | 菲利浦光灯制造公司 | 发明人 | 罗伯特·阿诺德·哈特曼;汉斯·彼得·佩洛石克 |
分类号 | G01R31/28 | 主分类号 | G01R31/28 |
代理机构 | 中国专利代理有限公司 | 代理人 | 肖掬昌;肖春京 |
主权项 | 1.一种测试一部分显示器件的方法,该部分显示器包括一个在至少一激励线路和一待形成象素的图象电极之间的开关元件,其特征在于,用能束来扫描开关元件并用扫描电子显微镜来测试所产生的加到图象电极的电荷。 | ||
地址 | 荷兰艾恩德霍芬 |