| 发明名称 |
METHOD FOR MEASURING CHARACTERISTIC OF MULTIPLE-BEAM SEMICONDUCTOR LASER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH03223641(A) |
申请公布日期 |
1991.10.02 |
| 申请号 |
JP19900018644 |
申请日期 |
1990.01.29 |
| 申请人 |
SANYO ELECTRIC CO LTD |
发明人 |
INOUE YASUAKI;YOSHITOSHI KEIICHI |
| 分类号 |
G01J1/02;G01M11/00;G01R31/26;H01S5/00 |
主分类号 |
G01J1/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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