首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 MEASURING ARRANGEMENT FOR MEASURING TEMPERATURE DEPENDENT DIRECT CURRENT OR HIGH-FREQUENCY PARAMETERS DURING OPERATION AS WELL AS FOR OPERATION AND/OR MEASURING THERMOSTATICAL SEMICONDUCTOR IN A SPACE HAVING CHANGING TEMPERATURE
摘要
申请公布号 HU910699(D0) 申请公布日期 1991.09.30
申请号 HU19910000699 申请日期 1991.03.05
申请人 MTA MUESZAKI FIZIKAI KUTATO INTEZETE,HU 发明人 SZENTPALI,BELA,HU;REISINGER,GYOERGY,HU;REISZ,FERENC,HU;LUKACS,LASZLO,HU
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com