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发明名称 BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH03216899(A) 申请公布日期 1991.09.24
申请号 JP19900013068 申请日期 1990.01.22
申请人 NEC CORP 发明人 KOIKE HIRONORI
分类号 G11C29/00;G11C11/401;G11C29/12 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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