发明名称 ANORDNUNG ZUM MESSEN VON STRUKTURBREITEN UND- ABSTAENDEN IM MIKROMETER- UND SUBMIKROMETERBEREICH
摘要
申请公布号 DD293642(A5) 申请公布日期 1991.09.05
申请号 DD19900339765 申请日期 1990.04.17
申请人 CARL ZEISS JENA GMBH,DE 发明人 MENZEL,WERNER,DE
分类号 G01B11/02;(IPC1-7):G01B11/02 主分类号 G01B11/02
代理机构 代理人
主权项
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