发明名称 SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH03200345(A) 申请公布日期 1991.09.02
申请号 JP19890341059 申请日期 1989.12.27
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 SAKAI IWAO
分类号 G01R31/26;G01R1/073;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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