| 发明名称 |
MODULAR TEST STRUCTURE FOR SINGLE CHIP DIGITAL EXCHANGE CONTROLLER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0361808(A3) |
申请公布日期 |
1991.07.31 |
| 申请号 |
EP19890309677 |
申请日期 |
1989.09.22 |
| 申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES, INC. |
发明人 |
NIX, MICHAEL A. |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G01R31/317;G06F11/22;G06F11/273;H01L21/822;H01L27/04;H04M3/24;H04Q11/04;(IPC1-7):G06F11/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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