发明名称 TEST CIRCUIT FRO SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 JPH03165279(A) 申请公布日期 1991.07.17
申请号 JP19890304983 申请日期 1989.11.24
申请人 SHARP CORP 发明人 OCHIAI KAZUAKI
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/56;H01L21/66;H01L27/10 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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