| 摘要 |
<P>L'invention concerne les circuits intégrés, et plus particulièrement ceux qui utilisent des verrous électroniques pour modifier la configuration du circuit, par exemple pour restreindre l'accès de l'utilisateur à certaines fonctions ou certaines données du circuit. <BR/> Selon l'invention, on, prévoit un premier verrou électronique (CL1, CL'1, X1) apte à être verrouillé ou déverrouillé pendant une phase de test du circuit intégré et à être irréversiblement verrouillé après la fin de la phase de test, et un deuxième verrou électronique (CL2, CL'2, X2) apte à être déverrouillé seulement tant que le premier verrou est déverrouillé. De cette manière, on peut tester l'ensemble du circuit intégré tel qu'il se présente pour l'utilisateur, le verrouillage des verrous étant en quelque sorte simulé pendant le test.</P>
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