| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Einrichtung zur Korrektur der Positionsfehler eines durch ein Ablenksystem (17) mit mindestens einer Spiegelfläche (18) über eine Fläche (23) abgelenkten Lichtstrahls (2), der sich quer zur Zeilenrichtung relativ zum Ablenksystem (17) bewegt. Der Lichtstrahl (2) wird mittels einer Laserdiode (1) erzeugt, die quer zur Richtung des austretenden Lichtstrahls (2) in Abhängigkeit von Korrekturwerten verschiebbar ist. Vor dem eigentlichen Betrieb werden für jede Spiegelfläche (18) des Ablenksystems (17) eine Anzahl von Positionsfehlern des Lichtstrahls (2) in Zeilenrichtung (X-Positionsfehler) und senkrecht dazu (Y-Positionsfehler) an in Zeilenrichtung orientierten Meßpunkten (32a; 32b; 32c) in der Fläche (23) gemessen. Für jede Spiegelfläche (18) wird mindestens ein X-Korrekturwert und ein Y-Korrekturwert erzeugt. Die Laserdiode (1) wird in Abhängigkeit von den X-Korrekturwerten und den Y-Korrekturwerten derart verschoben, daß der auf die Fläche (23) auftreffende Lichtstrahl (2) zur Beseitigung der X-Positionsfehler und der Y-Positionsfehler Korrekturverschiebungen in und senkrecht zur Zeilenrichtung erfährt. Die Korrekturwerte werden bei gleichzeitiger Überprüfung der Positionsfehler so lange geändert, bis die Positionsfehler kompensiert sind. Die auf diese Weise ermittelten Korrekturwerte werden gespeichert und während des eigentlichen Betriebes zur laufenden Fehlerkompensation in Synchronismus mit der Bewegung des Ablenksystems (17) ausgegeben.</p> |
