发明名称 TEMPERATURE TESTING METHOD FOR IC, HEAT INSULATED CASE AND GAS FEEDING APPARATUS
摘要
申请公布号 JPH03148078(A) 申请公布日期 1991.06.24
申请号 JP19890286986 申请日期 1989.11.02
申请人 DAITOO:KK 发明人 KURIHARA MITSUGI
分类号 G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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