发明名称 ANORDNUNG UND VERFAHREN FUER EXTERNE TESTZUGRIFFE AUF DIE CHIPINTERNEN FUNKTIONELLEN SPEICHERELEMENTE HOCHINTEGRIERTER LOGISCHER NETZWERKE.
摘要
申请公布号 DE3679313(D1) 申请公布日期 1991.06.20
申请号 DE19863679313 申请日期 1986.03.29
申请人 IBM DEUTSCHLAND GMBH, 7000 STUTTGART, DE 发明人 BLUM, DIPL.-ING., ARNOLD, W-7261 GECHINGEN, DE
分类号 G06F11/22;G01R31/28;G01R31/3185;G11C19/00;(IPC1-7):G01R31/28;G06F11/26 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
主权项
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