| 发明名称 |
METHOD FOR DETECTING STRESS AND DEFECT IN A METAL PIECE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0125064(B1) |
申请公布日期 |
1991.06.12 |
| 申请号 |
EP19840302739 |
申请日期 |
1984.04.24 |
| 申请人 |
AMERICAN STRESS TECHNOLOGIES INC. |
发明人 |
TIITTO, SEPPO I. |
| 分类号 |
G01L1/00;G01N27/72;G01N27/82;G01R33/12 |
主分类号 |
G01L1/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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