发明名称 PROCESS FOR THE HIGH-PRECISION MEASURING OF BI-DIMENSIONAL STRUCTURES, AND REFERENCE MASK FOR CARRYING OUT THE PROCESS
摘要
申请公布号 EP0226893(B1) 申请公布日期 1991.06.05
申请号 EP19860116741 申请日期 1986.12.02
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 DOEMENS, GUENTER, DR.;EIGENSTETTER, HERBERT;MENGEL, PETER, DR.
分类号 G01B11/00;G03F7/20;G03F9/00;H01L21/027;H01L21/67;H01L21/68 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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