METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE,申请号JP19890258035-传众专利搜索

发明名称	METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号	JPH03120483(A)	申请公布日期	1991.05.22
申请号	JP19890258035	申请日期	1989.10.03
申请人	SHARP CORP	发明人	NAWAKI MASARU
分类号	G01R31/26;G01R31/28;G11C11/401;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/34;G11C29/50	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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