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发明名称 SYSTEM FOR TESTING LARGE-SCALE INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 SU1647569(A1) 申请公布日期 1991.05.07
申请号 SU19884489443 申请日期 1988.10.03
申请人 ALENIN EDUARD A,SU;YAKOVLEV PETR V,SU;SAVKINA NATALYA,SU 发明人 ALENIN EDUARD A,SU;YAKOVLEV PETR V,SU;SAVKINA NATALYA I,SU
分类号 G06F11/30;G01R31/303;G06F11/00 主分类号 G06F11/30
代理机构 代理人
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