| 摘要 |
<p>Procédé et dispositif de mesure de la hauteur de pièces de matières. Jusqu'à maintenant, on a mesuré la hauteur d'une pièce de matière (2) par éclairage de celle-ci à partir du côté et par mesure de la largeur de l'ombre tombant sur un détecteur (4). Si plusieurs pièces de matières se trouvent côte à côte sur une surface (1), ce procédé de l'art antérieur ne peut être appliqué. On peut mesurer la hauteur de pièces de matières (2) individuellement par éclairage de la pièce de matière (2) obliquement à partir du dessus de sorte qu'une ombre (7) est formée sur la surface située à côté de la pièce de matière (2) et que l'on mesure la longueur (D) de l'ombre. La longueur (B) de l'ombre (7) donne la hauteur de la pièce de matière.</p> |
