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<p>Ein Strahlungsdetektor mit einem Kristallkörper (10) von kleiner spezifischer Wärme ist mit einem Temperatur-Messelement (4) und mit einem Kryostaten (9) zur Einregelung einer vorgegebenen Betriebstemperatur versehen. Der Kristallkörper (10) ist ferner mit einer nicht an elektrisches Fremdpotential angeschlossenen supraleitenden Schicht (1) versehen. Der Kryostat (9) ist zum Betrieb der Vorrichtung unterhalb der Sprungtemperatur des Supraleiters (1) eingestellt. Die supraleitende Schicht (1) ist einem Mikrowellenfeld (8) ausgesetzt. Dabei entspricht die Dicke der supraleitenden Schicht (1) etwa der LONDON-Eindringtiefe der angelegten Mikrowellenstrahlung in dieser Schicht. Vorzugsweise ist zwischen dem Kristallkörper (10) und der ersten supraleitenden Schicht (1) eine zweite supraleitende Schicht (2) angeordnet, welche dicker ist als die erste Schicht (1). Ein solcher Detektor ist hinsichtlich der Abmessungen und der Betriebstemperatur weniger stark eingeschränkt als bekannte Detektoren. Es ergeben sich ausserordentlich breite Anwendungsmöglichkeiten. Ausser zur Messung von Teilchenstrahlung, wie Gammastrahlung oder Röntgenstrahlung, kann der Detektor auch zur Messung eines niedrigen Strahlungsflusses von Ultraviolett-Strahlung bis zu extrem langwelliger Infrarotstrahlung von etwa 1 mm Wellenlänge ausgelegt werden.</p> |
