| 发明名称 |
TEST CIRCUIT OF SERIAL ACCESS MEMORY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH03102274(A) |
申请公布日期 |
1991.04.26 |
| 申请号 |
JP19890215246 |
申请日期 |
1989.08.21 |
| 申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
KIMURA MASATOSHI;OKADA KEISUKE;USHIO TOMOHIRO;YAZAWA HISANOBU |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C29/00;G11C29/34 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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