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发明名称 ALLOCATING SYSTEM FOR TEST PATTERN IN IC TESTER
摘要
申请公布号 JPH0387675(A) 申请公布日期 1991.04.12
申请号 JP19890224891 申请日期 1989.08.31
申请人 YOKOGAWA ELECTRIC CORP 发明人 MATSUDA MASATOSHI
分类号 G01R31/3183;G01R31/28 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
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