发明名称 Apparatus with means to measure the characteristic X-ray emission from and the density of a material
摘要
申请公布号 US3354308(A) 申请公布日期 1967.11.21
申请号 US19650454770 申请日期 1965.04.30
申请人 PHILIPS ELECTRONICS & PHARMACEUTICAL INDUSTRIES CORPORATION 发明人 ENGEL FREDERICK;KILEY WILLIAM R.
分类号 G01N23/223 主分类号 G01N23/223
代理机构 代理人
主权项
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