发明名称 PROCESS AND CONNECTION ARRANGEMENT FOR TESTING RELIABILITY OF ELECTRONIC DEVICES, PREFERABLY FOR APPLICATION FOR MICROWAVE TRANSISTORS
摘要
申请公布号 HU905836(D0) 申请公布日期 1991.03.28
申请号 HU19900005836 申请日期 1990.09.10
申请人 MTA MUESZAKI FIZIKAI KUTATO INTEZETE,HU 发明人 MOJZES,IMRE,HU;KOVACS,BALAZS,HU;SZUECS,ISTVAN,HU;SONKOLY,AUREL,HU;HAZMAN,ISTVAN,HU;DEAK,ISTVAN,HU;VERESEGYHAZY,ROBERT,HU;CSANYI,FERENC,HU;KAZI,KAROLY,HU;MENYHART,ISTVAN,HU;HORVATH,ZOLTAN,HU
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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