Apparatus for characterising dielectric properties of samples of materials, having an even or uneven surface, and application to the non-destructive control of the dielectric homogeneity of said samples.

摘要

L'invention concerne un dispositif de caractérisation diélectrique d'échantillons de matériau de surface plane et/ou non plane, le dispositif comprenant une sonde (3) reliée à une ligne coaxiale (2) par un connecteur (30) et se caractérisant en ce que la sonde comporte une pièce tubulaire conductrice (7), une tige (8) conductrice coaxiale à la pièce tubulaire (7), une pièce annulaire (10) en matériau diélectrique logée dans la pièce tubulaire (7) et solidaire de la tige (8), l'ensemble tige (8) et pièce annulaire (10) coulissant dans la pièce tubulaire (7) en opposant une résistance lorsque sa deuxième extrémité est en contact avec l'échantillon (4) afin d'assurer un bon contact avec ce dernier, cette deuxième extrémité ayant au moins un axe qui coïncide avec une génératrice de la surface de l'échantillon de manière à ce que le contact ait toujours lieu, que la surface soit plane ou non plane. Application au contrôle non destructif de l'homogénéité diélectrique d'échantillons.