发明名称 |
测量实体截面图的超声系统 |
摘要 |
一套测定具有两个相对表面物体横截面图的系统由以下几部分组成:具有参考面的超声波传感器;厚度测量装置,使传感器发射和接收超声波能量,确定参考面与反射面之间的距离;支撑传感器的支架;使支架沿直线路径运动的导向装置;位置测定装置,可确定支架相对于参考点的位置;将导向装置固定在物体上的部件;信号处理装置,相应于支架的位置产生相对面之间的距离指示。 |
申请公布号 |
CN1050085A |
申请公布日期 |
1991.03.20 |
申请号 |
CN90107464.0 |
申请日期 |
1990.09.04 |
申请人 |
西屋电气公司 |
发明人 |
迈克尔·约瑟夫·米塔拉;李·韦恩·伯特内尔;迈克尔·弗朗西斯·费尔 |
分类号 |
G01B15/04;G01N29/04 |
主分类号 |
G01B15/04 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利代理部 |
代理人 |
冯赓瑄 |
主权项 |
1、一套用于测定具有两个相对表面的物体横断面图的系统包括: 具有一个参考表面的超声波传感器,用于发射和接收通过上述参考面的超声波能量; 厚度检测装置,它与上述传感器相连,可使该传感器通过上述参考面发射超声波能量,並检测被该传感器接收的、通过该参考面的反射超声波能量,由此可以得到参考面与面对该参考面的超声波能量反射面之间的距离; 一个支撑上述传感器的支架; 导向装置,它决定了一条具有一个参考点的直线运动轨迹,並支撑上述支架沿这条运动轨迹运动; 位置测定装置,它可操作地与上述的支架相关联,以获得该支架沿上述运动轨迹相对于上述参考点的位置; 用来将导向装置固定在物体上的装置,它将使直线运动轨迹沿着两相对平面之一延伸; 还有信号处理装置,它与上述位置测定装置及上述的厚度测量装置相连接,当上述参考面与物体的两相对面之一接触时,与上述支架相对于上述参考点的位置相关,可产生两相对面之间的距离指示。 |
地址 |
美国宾夕法尼亚州 |