发明名称 |
Capacitor structure for field-effect transistor semiconductor memories. |
摘要 |
Die Erfindung beschreibt eine Kapazitätsstruktur für Halbleiterspeicher auf der Basis von Feldeffekttransistoren sowie ihre Herstellung. Neben, anliegend an oder auf einer der aktive Zonen des Transistors ist dabei eine Doppelschicht aus Haft- und Kontaktschicht (4, 5) angeordnet, auf der das Dielektrikum (8) aus keramischen Material aufsitzt.
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申请公布号 |
EP0417341(A1) |
申请公布日期 |
1991.03.20 |
申请号 |
EP19890116907 |
申请日期 |
1989.09.13 |
申请人 |
DEUTSCHE ITT INDUSTRIES GMBH |
发明人 |
BLOSSFELD, LOTHAR, DIPL.-PHYS. |
分类号 |
H01L27/04;H01L21/822;H01L21/8242;H01L27/10;H01L27/108;H01L27/115 |
主分类号 |
H01L27/04 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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