TEST CIRCUIT FOR LINE MEMORY,申请号JP19890200636-传众专利搜索

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发明名称	TEST CIRCUIT FOR LINE MEMORY
摘要
申请公布号	JPH0365673(A)	申请公布日期	1991.03.20
申请号	JP19890200636	申请日期	1989.08.02
申请人	MITSUBISHI ELECTRIC CORP	发明人	OI MASUMI
分类号	G01R31/28;G11C29/00;G11C29/12;H01L21/66	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
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